X熒光測硫儀DM1250 X射線熒光光譜儀(XRF)

DM1250  X熒光測硫儀

用于水泥、煤、碳黑等固

體材料中SO3的濃度測量

最快30秒給出結(jié)果

采用

能量色散X射線熒光(EDXRF)分析技術(shù)

低本底薄鈹窗正比計數(shù)管，次級濾光片

觸摸式彩色高清屏、多道脈沖分析器等

符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T176  JB/T11145  JC/T1085

X熒光測硫儀DM1250 X射線熒光光譜儀(XRF)概述

DM1250 X熒光測硫儀是本公司集數(shù)十年X熒光分析儀的研究經(jīng)驗，在公司原有的DM系列鈣鐵分析儀、X熒光多元素分析儀等的基礎(chǔ)上研制推出的一種主要用于水泥企業(yè)的X熒光測硫儀。它采用能量色散X射線熒光(EDXRF)分析技術(shù)、小型X光管做激發(fā)源、薄鈹窗充氣正比計數(shù)管、次級濾光片、特殊的光路系統(tǒng)和硬質(zhì)樣品比例法，從而達(dá)到很高的準(zhǔn)確度。其符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 176—2017《水泥化學(xué)分析方法》的相關(guān)要求，符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JC/T1085—2008《水泥用X射線熒光分析儀》，符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JB/T11145—2011《X射線熒光光譜儀》。只要壓個片就能在30秒內(nèi)測出生料、熟料或水泥中SO3的濃度。

DM1250 X熒光測硫儀的2021款除保持了原有DM1240的優(yōu)點外，還進行了以下重大改進：

(1) 大屏幕彩色觸摸式液晶屏代替原黑白液晶屏和鍵盤，改善了用戶的操控體驗。

(2) 新的大規(guī)模集成電路CPU代替原老的如80C31等CPU，沒有數(shù)據(jù)總線與外部設(shè)備或外部芯片直接連接，極大地提高了系統(tǒng)的可靠性，基本消滅了死機現(xiàn)象。

(3) 用貼片電路代替原立式電路，減少了電路板的面積，并能大規(guī)模機械化生產(chǎn)，極大地提高了硬件的可靠性，使儀器的返修率降到最底。

(4) 用熱敏打印機代替了原來的針打印機。

(5) 用最新設(shè)計的采用CPLD，F(xiàn)PGA，DSP等技術(shù)的多道脈沖幅度分析器及可變增益放大器代替原單道脈沖幅度分析器及固定增益放大器。

DM1250 X熒光測硫儀的2021款的推出是本公司實現(xiàn).

X熒光測硫儀DM1250 X射線熒光光譜儀(XRF)適用范圍

主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中SO3的濃度測量，并通過測量生料中SO3的濃度來控制熟料的質(zhì)量，通過測量水泥中SO3的濃度來控制水泥的質(zhì)量?？蓡螜C使用，也可聯(lián)機使用為生料配料自動控制系統(tǒng)提供檢測訊號,形成“分析儀---微機---皮帶秤"自動控制系統(tǒng)。

除水泥工業(yè)外,也可用于發(fā)電廠、磚瓦廠、冶金、石油、地質(zhì)礦山等部門的固體和粉末樣品中SO3的濃度測量。

特點

快速同時––所需測量元素同時快速分析，一般幾十秒給出濃度結(jié)果。

高準(zhǔn)確度––采用EDXRF技術(shù)，低本底薄鈹窗正比計數(shù)管，次級濾光片。極大地提高了儀器的靈敏度和峰背比，具出色的重復(fù)性和再現(xiàn)性，準(zhǔn)確度。

向下照射––采用X射線向下照射系統(tǒng)，杜絕了樣品粉末污染損壞探測系統(tǒng)的可能，特別適合水泥生熟料等粉末樣品。

長期穩(wěn)定––采用可變增益數(shù)字多道，有增益調(diào)整、比率校正、偏差修正等功能，長期穩(wěn)定性。

環(huán)保節(jié)能––射線防護達(dá)豁免要求。分析時不接觸不破壞樣品，無污染，無需化學(xué)試劑，也不需要燃燒。

使用方便––觸摸屏操作。樣品粉碎壓片放入儀器后只需按[啟動]鍵即可,真正實現(xiàn)一鍵操作。

高可靠性––一體化設(shè)計,集成化程度高,環(huán)境適應(yīng)能力強,抗干擾能力強,可靠性高。

數(shù)據(jù)傳存––可存儲海量數(shù)據(jù),支持掉電后保持?jǐn)?shù)據(jù),并可隨時查看.并可將存儲數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C機。

高性價比––無需氣體、真空、稀釋，運行維護成本極低。價格為國外同類產(chǎn)品的一半.

校準(zhǔn)

X熒光分析方法是一種參考方法，校準(zhǔn)是為得到定量的結(jié)果所必須的。XRF光譜儀通過比較已知標(biāo)樣與未知樣的光譜強度來得到定量分析的結(jié)果。其某元素的濃度計算式(即校準(zhǔn)曲線)為:C＝D＋EIC＋FIC 2                                                                

(1)式中，IC=f(I0)，I0為原始強度，IC 為處理后強度，D、E、F是由校準(zhǔn)確定的系數(shù)。校準(zhǔn)的方法是:用光譜儀測量一系列校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)樣品或有證標(biāo)準(zhǔn)樣品的每種元素強度，利用回歸分析，例如最小二乘法，確定(1)式的系數(shù)

主要技術(shù)指標(biāo)